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在“VLSI Symposium ON Technology”首日举行的发表会“Will Emerging Non-Volatile Memories Finally Emerge?”(新型非易失性存储器终会实现吗?)上,东芝、三星电子、海力士半导体(Hynix Semiconductor)、美光科技(Micron Technology)以积电(TC)等的负责人纷纷登台,对非易失性存储器技术的未来进行了展望。以下为各公司演讲内容的概要。 东芝(仁田山 晃宽) 半导体存储器市场可分为数据存储器、代码存储器和工作存储器三部分,而所有这些用途的通用存储器并不存在。就东芝的主力业务NAND闪存而言,尽量现有浮游栅的寿命是基本方针。但1Xnm之后的技术工艺或许需要实现三维化。后NAND闪存就是三维NAND闪存。为了能够随时替换浮游栅,必须提前好三维NAND闪存。 在三维NAND闪存中,存储器单元面积、制造工艺的简洁性以及抗性等方面为出色的当属我们研发的“BiCS”。如果采用该项技术,可用单枚芯片 实现1Tbit等大容量。虽有观点指出,BiCS在通道中采用了多晶硅,因此阈值电压容易出现偏差,但我们确信可以克服这个问题。 BiCS需要在贯通孔中进行氮化膜和多晶硅成膜,因此水平方向的尺寸缩小存在极限。为此,要想bit成本,就需要存储器单元垂直方向的积层数。我认为可以积层20多层。 关于光刻技术,现有的ArF光刻将在1Xnm之后的技术工艺中遭遇极限。因此,1Xnm以后的某个阶段均需要导入EUV光刻。 三星电子(G.Jeong) 新型非易失性存储器要求具备针对10nm以后技术工艺的可扩展性。我们认为,PRAM(相变存储器)可微细化至7nm前后,ReRAM(可变电阻式存 储器)可微细化至5nm前后,STT-MRAM(自旋注入式磁化反转型磁存储器)可微细化至20nm以后。从成本来看,可替代NAND闪存的是 ReRAM,可替代NOR闪存和DRAM的是PRAM和MRAM。 我们已从2010年开始了PRAM的量产,现已达到了可替代NOR闪存的阶段。今后要想替代DRAM,就需要擦写。STT-MRAM可用于替 代工作存储器和混载闪存。我们认为,2013年前后市场上将出现64Mbit以上的产品。STT-MRAM今后需要微细化至1Xnm以后,确保热性和 特性均匀性等将成为其课题。ReRAM则需要改进存储器单元的选择元件、确立三维积层技术和量产效率等。 海力士半导体(J. Roh) 在现有的存储器中,尤其是DRAM要微细化至20nm以后是非常难的。原因是无法确保所需电容器容量的空间。关于这一点,尚未有明确的技术解决方案。 在我们全力的新型非易失性存储器中,包括ReRAM和STT-MRAM。其中,STT-MRAM存在布局効率、削减开关电流和确立蚀刻等课题。我个人希望继续推进,以使这种新型非易失性存储器在5年内实现量产。 美光科技(J. Zahurak) NAND闪存和DRAM在今后5年内都不会被其他存储器所替代。NAND闪存可通过三维化进一步增大容量。DRAM可通过4F2(F为设计规则)单元和TSV(硅贯通孔)来维持进步。 台积电(L.Tran) 作为可在逻辑LSI上混载的新型非易失性存储器,MRAM和ReRAM等备受关注。不过,在今后2~5年内,这些存储器将只限于低容量的补缺性用途。将来,混载MRAM有可能会替代中速SRAM缓存。关于带有垂直磁化型存储元件的MRAM,验证针对10nm以后的可扩展性是其课题。

 

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